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検査システムの見直しで本当のコストダウンを

安価な基板製作を行ったらDUTの電気特性が得られなかった……再製作が必要になりコストオーバーを招いてしまった……

こんな苦い経験をお持ちの方も多いかと思います。
そこでご提案させていただきたいのが、検査システムの性能アップです。
DUT測定に関する検査システムを見直すことにより、効率的なコストダウンが可能になります。

コストダウン実現のためのご提案

検査システムの見直しを検討してみませんか?
1DUTのみの測定ではなく、複数同時の測定は可能ですか?
多数個同時測定をご検討ください。
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従来のICテスターは高価でメタボリックになっていませんか?
汎用測定器に変更してみませんか?
ICテスターの選定をお手伝いします。
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新規テスターの導入が予算が取れず難しいのでしたら?
ICテスターへの機能の追加を
ご提案します。
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